テストモジュール

CTP682 ジオメトリ・センシトメトリ・モジュール

X軸方向に平行な1組の0.15mmスチールワイヤランプ，Y軸に平行な炭化タングステンビーズランプ2組が含まれており，ファントムのCTスキャン軸への位置確認，スライス厚，スライス間隔の確認のほか，対向する各ランプ間のレシオ測定により最大10ﾟまでのガントリ角の確認が可能です。外周沿いに配置されたサンプル10個と水コンテナ1個はセンシトメトリ測定に用いられ，サンプル材質はテフロン，50%ヒドロキシアパタイト，デルリン，アクリル，ポリスチレン，LDPE，PMPおよび空気をご用意。円対称性のチェックに使用するほか，4つのテストシリンダ間のピクセル数カウントによりピクセルサイズが計算できます。さらにアクリル球8個（径1mm，1.5mm，2mm，3mm，4mm，6mm，8mm，10mm）では球体ボリュームのサブスライス画像評価が可能です。詳細なMTFおよびSSP計算については，モジュール中央面に，径0.28mmおよび0.18mmのビーズが1つずつ個別に配置されています。薄いスライスの高解像度測定については，モジュールの厚さ40mm全体にわたって，50μ径のスチール製MTFワイヤが走っています。

CTP714 30ラインペア高解像度モジュール

2mm厚アルミニウム製コントラスゲージは，放射状に八角形パターンで鋳込まれており，解像度セクションは1〜30ラインペア/cmとなっています。八角形パターンと45ﾟ刻みの回転式マウントを組み合わせることで，全てのゲージセグメントをXY軸に対し角度45ﾟないし90ﾟにアライメントした測定が可能となっています。

CTP515 低コントラストモジュール

低コントラスト用に3つのコントラストレベルと9つの異なる径を持つスープラスライス用円柱ロッド（外側）と，コントラスト公称値1.0%でZ軸長が3mm，7mm，9mmのサブスライス用ロッド（内側）4種（径3mm，5mm，7mm，9mm）が含まれています。外側スープラスライスロッドは長さ40mmで，任意のZ軸位置でコントラスト測定ができ，セクション全体をスキャンするときのボリューム平均化エラーを避けることができます。ヘリカルおよびマルチスライスCTでは，内側サブスライス用低コントラストターゲットを用い，低コントラストのサブスライス分解能における異なるプロトコル（ピッチ，スライス厚および再構成アルゴリズム）の効率評価が可能です。異なるプロトコルでスキャンした画像を比較することで，腫瘍のような小さく低コントラストの対象に，どのプロトコルが最適か選択する上で有効な情報を得ることができます。

CTP721 ウェーブインサートおよびCTP723型 ビーズブロック

●CTP721ウェーブインサート
アルミと透明ウレタンの4mm厚のランプが，スライス面に対し30ﾟの角度をなすよう交互に繰り返し配列されています。インサートには互い違いに2方向のランプセットが含まれています。ウェーブインサートのCT画像は，ランプによる明暗交互のパターンが得られ，このパターンを横切るプロファイルを作成すると，結果のプロットから，矩形波と三角波の中間のパターンが明らかになります。実際の波形パターンは，スライス厚とスキャナ解像度の両方から影響を受けます。CTP721はCTP712モジュールに取り付けられています。

●CTP723ビーズブロック CTP712モジュールに2つ取り付けられており，これらビーズブロックから得られるMTF測定と合わせてパターン解析をすることで，スライスを横切るスライス厚，ないしは高解像度の変動が識別できます。さらに，側方から見たハニカム状パターンは，3Dコンシステンシーの目視または解析的評価のテストパターンとして使うことができます。

CTP712 均一性セクション

注水式タンクよりも取扱しやすく，水質の差による変動などもないため，一貫性のある結果が得られます。温度変化にも強く耐久性も優れています。CTP712は，CT値で水の2%以内（0〜20H）の均質素材で作られており，放射方向および軸方向に高い均一性を有しています。X，Y，Z平面において様々な変数に関するテストが実施されておりますので，アプリケーションを選ばず安定してお使いいただけます。